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電壓擊穿測試儀與介質(zhì)損耗介電損耗

來源:技術(shù)文章    更新時間:2016-01-05    瀏覽:1887次

電壓擊穿測試儀介質(zhì)損耗介電損耗

 

介電損耗是指 電介質(zhì)在交變電場中,由于消耗部分電能而使電介質(zhì)本身發(fā)熱的現(xiàn)象。原因,電介質(zhì)中含有能導(dǎo)電的載流子,在外加電場作用下,產(chǎn)生導(dǎo)電電流,消耗掉一部分電能,轉(zhuǎn)為熱能。

 

電壓擊穿測試儀

定義

介電損耗角正切又稱介質(zhì)損耗角正切,是指電介質(zhì)在單位時間內(nèi)每單位體積中,將電能轉(zhuǎn)化為熱能(以發(fā)熱形式)而消耗的能量。表征電介質(zhì)材料在施加電場后介質(zhì)損耗大小的物理量,以tanδ來表示,δ是介電損耗角。

介質(zhì)損耗角是在交變電場下,電介質(zhì)內(nèi)流過電流向量和電壓向量之間的夾角。

介質(zhì)損耗介電損耗

作用

在實(shí)際工程應(yīng)用中,介質(zhì)損耗通常都是用介質(zhì)損耗角的正切tanδ來表示的。用tanδ值來研究電介質(zhì)損耗具有以下兩個明顯的優(yōu)點(diǎn):(1)tanδ值可以和介電常數(shù)ε同時測量得到;(2)tanδ值與測量樣品的大小和形狀都無關(guān),是電介質(zhì)自身的屬性,并且在許多情況下,tanδ值比ε值對介質(zhì)特性的改變敏感的多。

電壓擊穿測試儀介質(zhì)損耗介電損耗

原理

材料介電性能主要用介電常數(shù)ε和介電損耗角正切tanδ來表征,其中介電常數(shù)是綜合反映電介質(zhì)極化行為的宏觀物理量。介電損耗角正切表征每個周期內(nèi)介質(zhì)損耗的能量與其貯存能量之比。

電壓擊穿測試儀介質(zhì)損耗介電損耗

分析

高分子材料多系絕緣性好的材料,廣泛的用于電子及電工行業(yè)。使用時不希望絕緣材料本身能量損耗大,因而測量出介質(zhì)損耗因數(shù)就能評價材料的介質(zhì)本身能量損耗。工業(yè)上多選用介質(zhì)損耗因數(shù)小的高分子材料作為絕緣材料。通常極性橡膠的tanδ比非極性橡膠的大。它還與試驗(yàn)采用的頻率、溫度緊密相關(guān)。在一定溫度下,只有在某一頻率范圍內(nèi),分子偶極取向雖可追隨電場變化,但不*同步,有部分電能被吸收而發(fā)熱,tanδ出現(xiàn)zui大值。同樣在一定頻率下,惟有某一溫度區(qū)域內(nèi)tanδ才會出現(xiàn)極大值,當(dāng)頻率升高時,介質(zhì)損耗峰移向高溫端。

 

介質(zhì)損耗介電損耗參數(shù)

1.輸出電壓(交流)0~10kV(±3%±3個字.a型為0~5KV) 

2.漏電流(交流)MAX  20mA(±3%±3個字,可調(diào)) 
3.變壓器容量:1000VA
4.輸出波形:100Hz正弦波 
5.工作電壓:AC220V±10%
6.使用環(huán)境: 
環(huán)境溫度:0~40℃ 
相對濕度:(20~90)%消
7.耗功率:zui大75VA
8.外形尺寸:320mm(寬)×170mm(高)×245mm(深)

 

?電壓擊穿測試儀?

技術(shù)要求

01、輸入電壓: 220V

02、輸出電壓: 交流 0--50 KV ; 

03、電器容量: 5KVA

04、高壓分級: 0--5KV; 0-10KV; 0--20KV;0--50KV;

05、升壓速率: 10-5000 V/S(可以根據(jù)用戶需求設(shè)定不同的升壓速率)

06、試驗(yàn)方式:    直流試驗(yàn):1、勻速升壓  2、梯度升壓  3、耐壓試驗(yàn) 
交流試驗(yàn):1、勻速升壓  2、梯度升壓  3、耐壓試驗(yàn)

07、安裝靈敏度較高的過電流保護(hù)裝置保證試樣擊穿時在0.1S內(nèi)切斷電源

08、采用*無觸點(diǎn)原件勻速調(diào)壓方式。

09、支持短時間內(nèi)短路試驗(yàn)要求。

10、電極規(guī)格:¢25mm  兩個   片材電極 ¢75mm一個(可按客戶需求生產(chǎn))

11、主機(jī)尺寸:長寬高900*800*1500mm

12、操作臺尺寸:長寬高900*700*1500mm

 

電壓擊穿測試儀介質(zhì)損耗介電損耗

 

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